残余应力检测-X射线法

  残余应力检测中常用的方法之--X射线法。

  在劳埃法中可根据干扰斑点形状的变化来定性地确定残余应力。当无残余应力存在时，各干扰斑点呈点状分布。有残余应力时,各干扰斑点伸长，呈”星芒”状。
 

铝晶体的劳埃图

（a）铝晶体未变形的劳埃图；（b）铝晶体塑性变形后的劳埃图

  用德拜法可以定量地测出所存在的残余应力。第一种残余应力可根据德拜图上衍射线条位置的变化来确定。第二种和第三种残余应力可根据衍射线条的宽度变化和强化的变化来确定。

  X射线法是一种”非破坏性”的测定方法，它能够定量的测出物体内的残余应力。但此方法仅适用于能够给出较清晰敏锐的衍射线条的某些材料，并由于X射线的透射能力较小，只能探明物体接近表面部分的情况。